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异物分析:在无法单独分离异物进行测定的情况下，将异物部分与对照块重叠。 

这样做的话，就能确认异物中含有的元素。

从异物中检测出Cr、Mn、Fe、Ni 、Ti、Zn。

从对照块中也能检测出来Ti、Zn  ，除去相同的就是异物的成分。

可以参考下图指示设置文件重叠。

“重叠”功能，最多可以重叠显示8个峰值特征。 

通过重叠，可以确认峰值的差异。

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匹配功能，将得到的分析结果与已存数据库进行比较，按照匹配度由高到低显示的功能。

需要知道样品材质时使用。

要考虑到样品偏析带来的影响。

　焊锡中的Pb在表面会发生偏析。

　EDX分析容易受到样品表面情况的影响，如果表面出现Pb偏析的话，定量值偏高。

　样品制作时经过急剧冷却，表面研磨可以降低Pb的定量值。

焊锡的分析　

有的。

有国家级标准样品。是Fe中含有Pb、Cr的标准样品。

可根据自身需求进行选购。

仪器的固有系数登录在定量条件文件中，由于这个系数不同造成分析值不一样。

　一般来说，定量分析文件不能直接使用在其他仪器上。

可以使用EDX测量镀层厚度。

　测量方法有2种，为工作曲线法和薄膜FP法。

　本次测量的是多层膜的镀层厚度，适用薄膜FP法。

　测量镀层膜厚，需要满足以下2点。

　 ①样品的层数、各层的元素信息已知。

 　②有大于分析直径（准直器直径）的平面。

测量镀层膜厚

镀层膜厚测量条件方法①

镀层膜厚测量条件方法②　

镀层膜厚测量条件方法③　

样品上记载了以下4种样品盒。

・3571　普通无盖  ・3577　微量用（小直径样品盒）

・3529　普通有盖  ・3561　微量样品用

　根据样品的种类、量区分使用。

样品盒的使用　

样品盒的介绍①

样品盒的介绍②　　

膜的介绍　

使用荧光X射线测量高浓度水溶液的时候，由于自身吸收造成虽然含量增高但是荧光X射线的强度不升高的情况。

这个时候，可以通过稀释水溶液或变更分析线来进行应对。

什么是自身吸收　　

当要分析元素含量高时，样品中荧光X射线被同元素（自身）吸收，强度减弱的现象被称为自身吸收。

轻元素基体进行重元素分析时更加显著。

应对自身吸收的方法　

荧光X射线的分析深度根据样品的主成分、测量元素（分析谱线）有所不同。

・主成分越是轻元素越深，越是重元素越浅。

・测量元素越是重元素（分析谱线能量高）越深，

　越是轻元素（分析谱线能量低）越浅。

分析深度　主成分与荧光X射线能量