在5G电子和新能源领域，铜箔是重要的基础材料之一。本文使用岛津电子探针EPMA分析了电子元器件用电解铜箔表面微小缺陷，测试到腐蚀性元素S、氧化腐蚀产物O及微量元素Al，微观形貌显示有点腐蚀特征。结果显示，岛津电子探针在微量元素解析和超轻元素测试的灵敏度方面有着独特的优势。

悬浮在空中的细小颗粒污染物对环境和人类健康有着很大的危害，随着国六b阶段的推进，汽车尾气中颗粒物的排放限值也有了一定的要求。汽车尾气排放管道中放置颗粒捕捉器（Gasoline Particle Filter，GPF）是减少颗粒排放行之有效的技术手段。本文使用岛津电子探针对某类商用GPF进行了测试，发现其载体基体为镁铝硅酸盐陶瓷材料，壁面两侧涂覆少量Rh、Pd等贵金属活性成分和La、Ce等稀土元素。普通GPF涂覆尾气催化材料，具有部分三元催化（Three Way Catalyst）效用是一个很好的设计。

为了降低氧化铝陶瓷的烧结温度，使用添加剂是一种常用的有效方法，这种方法对原材料质量和烧结工艺的控制也有不同的要求。本文借助电子探针显微分析仪对一类低温烧结氧化铝陶瓷表面缺陷的问题进行了分析。结果表明：相较于正常烧结件，有缺陷的色彩异常的烧结件，原材料颗粒较粗大，残存有未熔的添加剂颗粒物，但不同颜色区域的微观形貌差异并不明显，主要是由于微观区域的元素面分布差异导致了肉眼可见的色彩异常。针对正常烧结件，也给出了进一步优化工艺的建议。

本文通过实验确认了使用电子探针对低合金钢中低含量的合金元素进行微区测试的检量线分析方法，分析和讨论了不同测试条件对合金元素检量线线性的影响。结果显示，各低含量合金元素在测试条件优化后，可以获得很好的工作曲线。针对低合金钢中低含量的重要元素碳含量测试也进行了探讨，良好的线性工作曲线显示了岛津电子探针使用检量线法测试超轻元素方面的高灵敏度。

内核富镍而外层富锰的富镍梯度三元正极材料，兼具高比容量及良好的稳定性及循环性能。本文使用岛津场发射型电子探针，对Ni、Co、Mn元素在某富镍梯度三元正极材料颗粒截面上的面分布特征进行了表征，结果显示颗粒具有明显的层状结构，外层贫镍富锰层厚度约为0.5μm，从外壳到核心，Ni含量逐渐升高，Mn、Co含量逐渐降低。相较于扫描电镜+能谱仪配置，岛津场发射型电子探针可在超大束流下仍能保持较细的束斑直径，可兼顾成像分辨率及元素分析高灵敏度，可对富镍梯度材料进行快速有效表征。

岩石中的矿物记录了岩石形成时的物理和化学信息。此外，人们已经了解到，岩石形成后发生蚀变的变质过程以元素分布和结构的形式保存下来。矿物也被用来做装饰使用，如用于珠宝和园林石的生产中。矿物的成分分析可以确定宝石中的元素分布并分析其微量元素，所获得的信息可用于宝石鉴定、产地确定等。电子探针微量分析仪（EPMA）可用于研究岩石矿物中元素的二维分布。在本文中，我们使用了一个EPMA™, 即电子探针显微分析仪（EPMA-1720HT），对认定含有绿帘石的商用石材（以下简称含绿帘石的石材）进行元素面分析。我们还进行了相分析，用以确定岩石中的矿物，并观察其分布。

独居石是一种较为常见的副矿物，可以进行地质定年。以独居石为代表的稀土矿物的元素测试在微束分析领域有自身的特点及难点。本文针对稀土矿物独居石的测试难点进行了探讨，并给出了相应的解决方案。最后使用岛津电子探针定量测试了某独居石矿物颗粒，得到了较为理想的测试结果，并通过其中的U、Th、Pb含量的计算得到独居石的矿物年龄。

本文以国家标准《JJG901 电子探针分析仪检定规程》和《GB/T 15075 电子探针分析仪的检测方法》为指导，根据不同分项的测试方法，并结合岛津电子探针特有的软件功能，实现仪器状态的便捷、快速检定。同时，行文探讨了标准中相对比较落伍的流程和指标，以及待更新的一些方法和规范。

本文使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720依据讨论的检测方法对两类硅酸盐玻璃试样进行了定性谱图的测试解析和微区定量测试，获得了理想的测试结果。针对硅酸盐玻璃的微区成分定量测试难点和分析方法进行了探讨，同时对加速电压的选择和含有电子束照射敏感的碱金属元素测试等注意事项进行了说明。

近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。