I3/A17. IEC校正又叫干扰元素校正，当待测元素各分析线均有干扰，如以下情况：

I3/A16. 内标法即：往标样和样品导入相同量的内标元素（一般加钇元素）时，取测定元素的发射光谱强度（Is）和内标元素的发射光谱强度（Ir）的比值。将此发射光谱强度比相对于测定元素浓度进行绘图，制作工作曲线，在实际样品中也测定它的发射光谱强度比，求出测定元素的浓度。其校正公式如下：
校正后强度=校正前强度/内标元素强度×100
需要使用内标法定量的情况：
（1）当样品存在物理干扰，比如样品粘度较大或盐分含量很高时，会导致样品导入量与标样导入量不一致从而使得结果产生偏差；
（2）测定高含量元素时，样品通常需要多倍稀释后进样；
（3）仪器或外界环境的一点点波动，会对结果产生很大的误差，用内标法可消除此类误差。

I3/A15. 轮廓图会有以下几种情况，其中当基体不匹配时会出现第二、第三种情况，基体不匹配会有基体干扰，导致测定结果不准，解决的办法是做背景校正，基体匹配或使用标准加入法进行测量。

I3/A14. 即使样品溶液中氢氟酸含量很低也不主张直接进样，因为多多少少都会对进样系统造成腐蚀，缩短部件的使用寿命同时造成灵敏度降低；在前处理的过程中应该加入高氯酸充分赶酸或者加入硼酸络合，硼酸的加入量大概是氢氟酸的6倍左右，然后再上机测试，否则应该使用氢氟酸进样系统。

I3/A13. 一般要求是每次开机都要重新做标准曲线，如果定量结果要求不严可以用某一个浓度的标准液进行验证，若测试误差在允许的范围之内，则可以不重做曲线。

I3/A12. 具有两条或两条以上分析线的元素，虽然他们峰形以及背景很好测试结果出现差异是很正常的，因为他们的灵敏度不一样，同时也有可能是存在光谱干扰或电离干扰；回收率好并不能代表方法就可靠，比如光谱分析中，如果有谱线干扰，它的回收也一样可以做得好。

I3/A11. 建议使用附件氢化物发生器测定。

I3/A10. 高纯样品主成分是难以定量的，可以通过对其杂质元素进行测定然后来定其纯度；首先使用99.999%以上高纯物（液体）进样，然后将样品（前处理后）进行进样， 两个谱图叠加确认所含杂质元素，最后基体匹配法或者标准加入法进行测定。

I3/A9. 一般来说，对于低浓度的样品曲线应该配成低浓度范围的来测，比如0ppm、0.02ppm、0.05ppm、0.1ppm；对于高浓度的样品应配成高浓度范围如0ppm、10ppm、20ppm、50ppm；如果标线高低浓度相差太大，对于低浓度样品是测不准的，如果一定要这样做，那么建议配成如：0ppm、0.02ppm、0.05ppm、0.1ppm、1ppm、10ppm、20ppm、50ppm，然后对于高低含量的元素定量时在曲线中选择相应的[Weight]([ 权重])进行重新计算。

I3/A8. 基体引起的信号强度小于待测元素信号强度的1%时，一般不必列为干扰；仪器所能承受的基体浓度与其炬管、雾化器型号相关，盐份含量通常小于5g/L为好，否则要做基体匹配或干扰扣除；至于酸的浓度，尽可能与标准一致，通常为 <20% 的硝酸、盐酸，尽可能少用硫酸、高氯酸、H3PO4。